激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）為手持式XRF和火花OES提供了一種替代技術(shù)，用于分析各種元素和合金。使用LIBS，在材料表面上產(chǎn)生與火花光發(fā)射光譜（OES）一樣的等離子體。來自各種元素存在的光譜線被測量為等離子體冷卻。特定線的波長顯示存在的元素，并且給定波長處的光的強(qiáng)度與每個元素的濃度相關(guān)。

　　SciAps很高興地介紹使用激光誘發(fā)擊穿光譜（LIBS）的手持式分析儀Z。在分析大多數(shù)合金，特別是亞鐵，不銹鋼和高溫時，手持式LIBS有三種“必須”。那些包括a）高能量脈沖激光器，Z以50Hz重復(fù)率使用6mJ /脈沖，b）新的50Hz爆破清洗以消除樣品研磨，以及c）Opti-Purge TM板上氬氣吹掃10次或更好的精度。 （注意，Z也可以配備僅用于具有壓縮氣罐限制的場所的空氣燃燒分析）。與傳統(tǒng)的手持XRF相比，Z提供了FAC的一些優(yōu)勢。這些優(yōu)點包括在低濃度（0.05％）下更快的Cr分析 - 通常為3秒。 Z是基于激光的，因此不存在如X射線的電離輻射。消除X射線會大大降低監(jiān)管負(fù)擔(dān)，特別是在核燃料發(fā)電廠。最后，Z提供移動OES的低原子序數(shù)表現(xiàn)（Li，Be，B，Mg，Al，Si），同時保持手持XRF的可移植性。