當(dāng)前，X射線熒光技術(shù)越來越受到廣泛的應(yīng)用，原因之一就是它是一種快速、準(zhǔn)確無損的分析技術(shù)。那它為什么市場(chǎng)越來越大，只是因?yàn)檫@原因么？

XRF技術(shù)因?yàn)楸銛y性，現(xiàn)在已被地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家廣泛使用，使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探，以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描。而像電感耦合等離子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品，以至于不適于現(xiàn)場(chǎng)分析，但XRF完全可以，特別是小型的手持式X熒光光譜儀。

事實(shí)上便攜性和現(xiàn)場(chǎng)是XRF的發(fā)展趨勢(shì)，這種現(xiàn)場(chǎng)使用的方式，在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以使用，而且穩(wěn)定、易用。“與質(zhì)譜(MS)方法相比，XRF有很多優(yōu)勢(shì)，其中主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品”芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling說到。

但是，我們也需要正視，XRF技術(shù)并不是全能，XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素。華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen說到：“傳統(tǒng)XRF儀器具吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級(jí)水平對(duì)于ppb級(jí)的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要樣品量不受限制、消解又很簡(jiǎn)單。對(duì)于有限的樣本，微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個(gè)更好的選擇。對(duì)于ppt水平的檢測(cè)，需要ICP-MS。”

而在鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過程中的應(yīng)用，“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大學(xué)教授Jun Kawai說，“一臺(tái)有40塊晶體的XRF儀器能夠同時(shí)測(cè)量40個(gè)元素。”

XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制，物相鑒定和無標(biāo)分析的XRF增強(qiáng)了制造工廠迅速評(píng)估替代材料和配方的能力，以及不同制造過程的副產(chǎn)品，更好地表征這些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用，會(huì)加快帶來一個(gè)綠色的未來。

維也納大學(xué)教授Christina Streli表示，“未來，XRF在文物、環(huán)境、醫(yī)學(xué)和其他領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值，將會(huì)被越來越多的人看到。”

洛薩拉摩斯國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的George Havrilla同意這一觀點(diǎn)，并稱，在文物研究領(lǐng)域XRF已經(jīng)證明了它的價(jià)值。“micro XRF對(duì)藝術(shù)品的快速成像分析將給藝術(shù)起源帶來新見解，”他說。“這些技術(shù)揭示了色素是在不斷降解的，使我們明白，我們今天看到的一些藝術(shù)品的顏色與當(dāng)初藝術(shù)家畫上去時(shí)是不一樣的。”

Havrilla還指出，光學(xué)鑷子的新進(jìn)展使得用XRF能夠檢測(cè)到單個(gè)細(xì)胞的“mechanical manipulation”，進(jìn)而使活體細(xì)胞內(nèi)容物的元素成像成為可能，這可以讓我們對(duì)生物機(jī)制有新的理解。

日本筑波國(guó)家材料科學(xué)研究所教授、團(tuán)體Kenji Sakurai，也看到了XRF進(jìn)行化學(xué)狀態(tài)分析的進(jìn)展，包括X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)和X射線近邊吸收(XANES) 技術(shù)的XRF檢測(cè)在同步加速器中應(yīng)用取得的重要成就。“我相信，在科學(xué)和許多工程領(lǐng)域XRF化學(xué)狀態(tài)分析將帶來新的機(jī)遇。”

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